推薦美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀，應用罩性金屬鍍層厚度測量， 例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au；Sn等 合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量， 例如： SnPb； ZnNi； 及NiP(無電浸鎳)在Fe上等 合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量， 例如： AuCuCd在Ni上等 雙鍍層厚度測量， 例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等 雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層)， 例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等 三鍍層， 例如： Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上 金屬成份分析， 最多可以分析四種金屬元素 。美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀聚焦多固定聚焦與激光系統，4096 多通道數字分析器與自動信號處理，包括X射線時間修正和防X射線積累，配英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內存,微軟Windows 7，讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標，有需要的朋友可來電咨詢。