領存科研版閃存測試儀NFA100-E適合于企業閃存控制開發人員、高校教授及碩士、博士進行閃存研究、以及各種特殊單位進行閃存的安全性、可靠性研究的研發人員使用。企業、高校研究版本NFA100-E，最多同時測試4片閃存芯片。NFA100-E是一套功能強大且極具靈活性的Nand Flash分析系統，它最大限度地滿足用戶的對于Nand Flash的信息分析需求以及對這些信息的再處理需求,用戶還可以通過API和腳本（script）來擴展任何自定義的測試或分析功能。

NFA100-E 閃存測試儀

NFA100-E是一套功能強大且極具靈活性的Nand Flash分析系統，它最大限度地滿足用戶的對于Nand Flash的信息分析需求以及對這些信息的再處理需求,用戶還可以通過API和腳本（script）來擴展任何自定義的測試或分析功能。

面向對象

NFA100-E主要面向：企業閃存控制開發人員、高校教授及碩士、博士進行閃存研究、以及各種特殊單位進行閃存的安全性、可靠性研究的研發人員。

技術指標

1、支持最新制程3D Nand Flash，1x nm以及25nm，34nm，56nm制程Nand Flash；

2、支持SLC，MLC，TLC，eMLC；

3、支持8位和16位異步Flash；

4、支持同步，Toggle Flash；

5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk，Hynix廠商所有常規Nand Flash；

6、支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封裝；

7、可以定制開發非常規封裝、自定義封裝Nand Flash。

性能指標

1、通過USB2.0接口測試設備內部連接工控電腦，計算由測試主板FPGA完成，對工控電腦資源消耗極低，USB2.0僅僅是將計算結果反饋給軟件，因此不會對性能產生任何影響；

2、測試效率主要取決于所需要測試Nand Flash的接口性能以及所需測試項目的內容，如：測試P/E cycle，所需時間完全取決于測試Block數量、測試pattern，及Nand Flash接口的性能。

特殊用途

1、測試客戶自主開發的BCH ECC或者LDPC強度；

2、測試Read Retry

3、對Nand Flash進行電壓拉偏測試；

4、對Nand Flash進行物理燒毀測試；

基本配置

1、顯示屏：12.1″ TFT LED 電阻式觸摸屏；

2、芯片組：Intel®  Bay-trail J1900 2.0GHz；

3、內存：2GB

4、存儲：32GB Renice SSD；

5、操作系統：Windows 7

6、I/O 接口：3個USB2.0, 1個USB3.0；4個 RS232; 1個RJ45 千兆網口； 1個顯示接口；

7、重量：20公斤

NFA100提供了兩種不同級別的用戶開發平臺 

1. API

通過API,各種對NAND Flash的操作及設定,用戶都可以通過調用NFA100提供的庫程序在自己的軟件中方便的實現自己需要的功能。

2.腳本（script）

NFA100提供了一套自己的編程語言，用戶可以在NFA100的環境（界面）下執行自定義的script。