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產品品牌Proceq/博勢
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更新日期2024-03-01 09:40
品牌: |
Proceq/博勢 |
所在地: |
廣東 深圳市 |
起訂: |
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供貨總量: |
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有效期至: |
長期有效 |
垂詢電聯: |
0755-28448890 | 15014028789 |
QQ: |
656348699 |
應用領域: |
主要用于金屬測量,還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測 |
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀產品簡介:
瑞士PROCEQ公司生產的Equotip550是一款基于動態回彈法原理的金屬硬度測量儀,能夠在現場自動將Leeb關聯至PortableRockweLL的實際壓痕硬度值。結合EquotipLeeb沖擊裝置可用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。儀器采用新功能觸摸屏裝置,改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。此外,該儀器可兼容后續開發產品。Equotip沖擊裝置完全滿足眾多行業對無損硬度檢測的要求。
PortableRockwell測量原理沿用傳統的洛氏硬度靜態檢測法,該方法非常適用于對刮擦敏感的、拋光的或細小的部件,以及對剖面和管道進行檢測。
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀功能特點:
根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)
自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL(硬度為 800 HL 時,準確度為 0.5%)
測量應用廣,可利用各種沖擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。
每個沖擊裝置均可使用硬度應用廣和硬度測試塊,,用于定期驗證。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模塊化概念:利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業應用
組合法: 在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值
引導向導:預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精度
自動驗證:根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證
互動指南:通過屏幕通知為您的應用獲取蕞相關的設置
轉換曲線:直接在儀器上創建、編輯和驗證轉換曲線
自定義報告:模塊化報告處理器允許自定義測量報告
自動選項:將NDT自動操作集成至質量管理系統和自動檢測環境
外殼經過特殊設計,可用于嚴苛的現場環境(IP 54),包括背帶、集成支架和遮陽蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時長 > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器,支持各種通信接口和外圍接口: 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網
通過直接兼容后續開發產品,實現未來保障投資
里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量,還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測
適用于材料挑選、驗收和生產環節檢測
適用于重型和大型部件安裝前后的現場檢測
方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地
Proceq 提供一些附件,例如一個測量夾或幾個支撐腳,適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb金屬硬度檢測儀標準:
ASTM A956/E140/A370
ISO EN 16859
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
準則
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI/VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀技術參數:
顯示屏 | 7”彩色顯示屏800x480像素 |
內存 | 內置8GB閃存 |
區域設置 | 公制和英制單位,支持多種語言和時區 |
電池 | 鋰聚合物,3.6V、14.0Ah |
電池使用時長 | >8h(標準操作模式下) |
電源輸入 | 12V+/-25%/1.5A |
重量(顯示裝置) | 大約1525g(含電池) |
尺寸 | 250x162x62mm |
海拔 | 2500mm海拔高度 |
濕度 | <95?%RH,非冷凝 |
操作溫度 | 0°C至30°C(32至86°F) |
環境 | 適合室內與室外使用 |
IP等級 | IP54 |
污染等級 | 2 |
安裝類別 | 2 |
| |
測量范圍 | 1-999HL |
測量精度 | ±4HL(800HL時為0.5%) |
分辨率 | 1HL;1HV;1HB;0.1HRA;0.1HRB; |
沖擊方向 | 自動補償(DL探頭除外) |
沖擊能量 | D、DC、E、S探頭為11.5Nmm DL探頭為11.1Nmm C探頭為3.0Nmm G探頭為90.0Nmm |
沖擊體質量 | D、DC、E、S探頭為5.45克(0.2盎司) DL探頭為7.25克(0.26盎司) C探頭為3.10克(0.11盎司) G探頭為20.0克(0.71盎司) |
球壓頭 | C、D、DC探頭為碳化鎢,直徑3.0毫米(0.12英寸) DL探頭為碳化鎢,直徑2.78毫米 G探頭為碳化鎢,直徑5.0毫米(0.2英寸) S探頭為陶瓷,直徑3.0毫米(0.12英寸) E探頭為多晶金剛石,直徑 |
操作溫度 | –10?C至50?C(14至122°F) |
保修
電子部件的保修期統一為 2 年
可選擇zui多3年時間的有償續保修
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