該儀器已獲國家專利，專利號201120337217.3。
 

產品介紹:
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

技術參數: 
1. 溫度范圍: 室溫~1150℃  
2. 量程范圍: 0～±2000μV  
3. DTA精度: ±0.1μV  
4. 升溫速率: 1～80℃/min  
5. 溫度分辨率: 0.1℃  
6. 溫度準確度: ±0.1℃  
7. 溫度重復性: ±0.1℃  
8. 溫度控制: 升溫：程序控制        可根據需要進行參數的調整
             降溫：風冷 程序控制   可選配 半導體冷卻系統、液氮冷卻系統 等
             恒溫：程序控制        恒溫時間任意設定
9. 爐體結構: 爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，精度高，易于操作
10. 氣氛控制: （選配）氣體流量計，氣氛轉換裝置
11. 數據接口: RS-232串口通訊  配套數據線和操作軟件
12. 主機顯示: 漢字大屏液晶顯示 藍底白字
13. 參數標準: 配有標準物,用戶可自行對溫度進行校正
14. 基線調整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調整基線
15. 工作電源: AC 220V  50Hz