膜厚測試儀用先進的X射線技術,可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上,拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量,保證質量的同時降低成本。
本網頁所展示的有關【回收菲希爾各種型號膜厚儀_分析儀器_深圳市金東霖科技有限公司】的信息/圖片/參數等由商一網的會員【深圳市金東霖科技有限公司】提供,由商一網會員【深圳市金東霖科技有限公司】自行對信息/圖片/參數等的真實性、準確性和合法性負責,本平臺(本網站)僅提供展示服務,請謹慎交易,因交易而產生的法律關系及法律糾紛由您自行協商解決,本平臺(本網站)對此不承擔任何責任。您在本網頁可以瀏覽【回收菲希爾各種型號膜厚儀_分析儀器_深圳市金東霖科技有限公司】有關的信息/圖片/價格等及提供【回收菲希爾各種型號膜厚儀_分析儀器_深圳市金東霖科技有限公司】的商家公司簡介、聯系方式等信息。
在您的合法權益受到侵害時,歡迎您向郵箱發送郵件,或者進入《網站意見反饋》了解投訴處理流程,我們將竭誠為您服務,感謝您對商一網的關注與支持!