博曼X-RAY膜厚儀是利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
Bowman是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
博曼（Bowman）X-RAY膜厚儀提供：
（1）無損分析：無需樣品制備
（2）經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
（3）操作簡單，只需要簡單的培訓
（4）分析只需三步驟
（5）杰出的分析準確性和精確性
（6）在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
（7）使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
博曼（Bowman）X-RAY膜厚儀可分析的樣品種類繁多，包括固體、液體、粉末、糊狀物、薄膜等，檢測從ppm級至高達百分含量的濃度范圍，覆蓋元素周期表中從AL13到U92間的元素。
它的優勢有高性能、高精度、長期穩定性：快速精確的分析帶來生產成本最優化，精確測定元素厚度，優化的性能可滿足廣泛的元素測量.堅固耐用的設計：可靠近生產線或在實驗室操作
，生產人員易于使用.簡單的校準調試：在沒有標準片時，經驗系數法或基本參數法可以提供簡單可靠的定量結果，方法建立只需幾分鐘，我們提供認證標準片以確保最佳精確度（A2LA 和 ISO/IEC17025），預置了多種校準參數.
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